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美能PID测试系统<br>ME-PV-PID</br>
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美能PID测试系统
ME-PV-PID

长期泄漏电流会造成电池片载流子及耗尽层状态发生变化、电路中的接触电阻受到腐蚀、封装材料受到电化学腐蚀等问题,从而导致电池片功率衰减、串联电阻增大、透光率降低、脱层等影响组件长期发电量及寿命的现象。

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什么是潜在诱导退化(PID)测试?

PID测试是对制造的模块进行的质量保证测试,以预测它们在不同条件下长时间的性能。对于太阳能组件的PID测试,将组件置于85°C的温度下,湿度约为85%,并在1000v负载下持续96小时。PID测试模拟组件暴露在的次电压和温度条件下的功率损耗。

如何进行潜在诱导退化(PID)试验?

为了进行测试,在两个金属电极之间放置了一组像模块一样的太阳能电池、聚合物箔和玻璃层堆栈。在加热底部(接地)电极的同时,在模块的上部电极上施加高正电压(电压相当于PID)。

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