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Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120
Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120
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WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。

载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。

优势规格 下载

独特的瞬态光电导技术

QSSPC技术对于监测多晶硅硅片,掺杂剂的扩散,和低寿命样本是理想的技术。这种方法补充了瞬态光电导技术的运用。瞬态光电导技术在这台设备上也是标准的。

QSSPC寿命测量

QSSPC寿命测量也产生隐含的开路电压(与lllumination)曲线,这可以与an1-v曲线在太阳能电池过程的各个阶段进行比较。

优秀的软件数据处理系统

Sinton设备的分析能为每个晶片产生校准载流子注入水平,所以你可以以一个物理上的方式解读寿命数据。每次测量都会显示和记录特定的参数。

WCT系统功能

单击即可锁定晶硅片的关键参数,包括方块电阻、少子寿命、陷阱密度、发射极饱和电流密度和暗电压

制造过程的逐步监测和优化

监测初始材料质量

晶片加工过程中检测重金属杂质

评估表面钝化和发射极掺杂扩散

使用隐含V测量评估过程引起的分流

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